混合键合已从研究阶段迈入生产阶段,但大规模量产仍面临重重挑战。细间距芯片到晶圆键合在粒子控制、表面形貌、对准精度和热预算等方面均有极高要求。已知良品芯片筛选虽能提升良率,却以牺牲并行效率为代价。清洁度、临时键合、CMP、翘曲控制及低温退火等工艺环节相互耦合,任一偏差都会压缩工艺窗口。实现量产的关键,在于晶圆厂、封测厂、设备商与材料供应商打破"黑盒"壁垒,共享工艺数据,构建跨组织的统一工艺窗口。