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2026-07-01
AI时代Chiplet设计中不可或缺的可观测性层
在基于Chiplet的架构中，可观测性正成为系统设计的关键缺失环节。多位半导体行业专家指出，AI可从硅层遥测数据中挖掘价值，但前提是架构须提供一致的检测手段、近传感器数据压缩及可编程采集能力。专家们强调，多供应商Chiplet生态系统需要标准化、安全的遥测模式，以实现跨芯片、封装和互联域的故障定位，同时保护敏感运营数据。目前，AI在遥测分析阶段已展现出显著价值，但可观测性的扩展本质上仍是架构问题。
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