芯片内部可观测性：现代硅设计的关键所在

随着芯片设计日趋复杂，片上可观测性（即裸片内可见性）正成为保障高性能系统性能、可靠性与安全性的关键手段。来自Arteris、Cadence、Synopsys等多家半导体企业的技术专家围绕这一议题展开深度讨论，涵盖Chip...