CPO测试如何突破单芯片限制：行业专家解析技术挑战

业界专家就共封装光学器件（CPO）测试展开讨论，指出光纤对准是当前光学引擎测试的主要瓶颈，大多数量产方案仍停留在单站点测试阶段。多站点探针卡方案正在探索中，连接器耐久性、电光同步接触及比特误码率测试效率是推动规模化量产的...