模拟与混合信号芯片为何难以实现自适应测试

模拟与混合信号芯片测试长期依赖规格说明，缺乏客观覆盖率指标，导致测试流程趋于保守。IEEE 2427-2025标准的发布首次为工程师提供了量化缺陷覆盖率的框架。然而，将器件行为与测试路径误差分离仍是难题——测量精度要求极...