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2026-06-09
模拟与混合信号芯片为何难以实现自适应测试
模拟与混合信号芯片测试长期依赖规格说明，缺乏客观覆盖率指标，导致测试流程趋于保守。IEEE 2427-2025标准的发布首次为工程师提供了量化缺陷覆盖率的框架。然而，将器件行为与测试路径误差分离仍是难题——测量精度要求极高，任何接触问题都可能污染数据。随着封装复杂度提升，自适应测试需在降低冗余测量的同时，确保边缘器件不流入市场。
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