2026-07-07
多裸片现场测试须建立在成熟测试方法论之上
AI革命的发展速度远超IC行业对多芯片系统的测试能力。在系统测试是确保数据中心和汽车硬件长期可靠性的最佳方法。2.5D系统和3D-IC的广泛应用依赖于现场监测、检测和修复故障的能力。通过片上监测器、DFT技术和高速接口(...
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